Test
Responsive Testbereicht
| Features |
|---|
| ROIs (Regions Of Interest): Punkte, Linien, Rechtecke, Kreise/Elipsen, Polygone |
| Berechnung von Hot und Cold Spots |
| Referenz-, Differenz-, Filter- und 2D-Linienbilder |
| Definition von VOIs (Values Of Interest) aus ROI-Werten |
| Trend-, Histogramm- und Profildarstellung |
| Alarmfunktionen |
Team Test
Jörg Kuschel
Applikationen und Vertrieb,
DIAS-Büro Nordwest Oberhausen,
Vertrieb Deutschland
PLZ-Gebiete: 30-37, 4 , 5
Telefon: +49 151 1536 0747
E-Mail: j.kuschel@dias-infrared.de
Dr. Uwe Hoffmann
Geschäftsführer, Fertigung und Entwicklung
Telefon: +49 351 896 74-0
E-Mail: info@dias-infrared.de
Dr. Reinhard Köhler
Vertrieb und Beratung: Infrarotsensoren
Telefon: +49 351 896 74-61
E-Mail: r.koehler@dias-infrared.de
Dr. Christian Schiewe
Applikationen und Vertrieb, Beratung: Infrarotgeräte & Systemlösungen,
Vertrieb
PLZ-Gebiete: 80-86
Telefon: +49 351 896 74-17
E-Mail: c.schiewe@dias-infrared.de
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Testbereich für Bilder
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| Material | Temperaturbereich | Spektralbereich | Beispiel |
|---|---|---|---|
| Nichtmetalle (z.B. Lebensmittel, Plastik/Kunststoff, Holz, lackbeschichtete Oberflächen) | –20 °C bis 500 °C | 8 µm bis 14 µm (LWIR) | Temperaturmessung an gefriergetrockneten Früchten oder Backwaren |
| Glasoberflächen | 200 °C bis 1250 °C | 4,8 µm bis 5,2 µm (MWIR) | Überprüfung des Abkühlprozesses bei der Flachglasherstellung |
| Temperaturmessung durch Flammen | 600 °C bis 1250 °C | um 3,9 µm (MWIR) | Temperaturmessungen in Feuerräumen, beispielsweise bei der Müllverbrennung |
| Keramik, Metall | 100 °C bis 500 °C | 3,0 µm bis 5,0 µm (MWIR) | Überwachung von Lötprozessen in der Elektronik-Fertigung |
| Metall, Keramik, Graphit | 300 °C bis 1200 °C | 1,4 µm bis 1,6 µm (NIR) | Prozesskontrolle beim Härten von Eisen und anderen Metallen |
| Metall, Glasschmelze | 600 °C bis 3000 °C | 0,8 µm bis 1,1 µm (NIR) | Qualitätskontrolle bei der Stranggussherstellung |
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